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时事报告
1 2英寸高均匀性GaAs多层外延材料 1994 06
2 fmax为66GHz的HBT 1994 05
3 FT─IR技术在半导体材料中的应用 1994 03
4 GaAs MESFET非线性CAD模型综述 1994 03
5 LP-MOCVD生长InGaAs/GaAs量子阱 1994 06
6 PECVDSiN及其在GaAsMESFET中的应用第… 1994 02
7 半导体微结构材料的发展 1994 02
8 高击穿电压InAIAs/n~+-InGaAs HFE… 1994 04
9 航空电子学用的多芯片组件的现状 1994 01
10 磷化铟晶体生长技术的现状及其发展趋势 1994 02
11 砷化镓能为我们做些什么?──记1993年GaAs I… 1994 03
12 在β-SiC薄膜上热生长SiO_2薄膜的高频电容-电… 1995 05
13 迅速发展的SiC半导体技术 1995 05
14 GaAsMESFET和DHEMT的中子辐射效应研究 1995 04
15 AlN基板与金属化层界面的分析电镜研究 1995 03
16 AlInAs/GaINAsHBTIC技术 1995 02
17 SiC接触的电学和化学特性 1995 05
18 MOCVD生长带有MQB的量子阱激光器材料 1995 04
19 MBE法生长的调制掺杂GaAs/Al_xGa_(1-… 1995 01
20 电力器件用的6H-SiC、3C-SiC和Si的比较 1995 05
21 低介电常数陶瓷复合基板材料 1995 06
22 高热导AlN──新型陶瓷基片及封装材料 1995 01
23 光致发光测定6H-SiC中的氮掺杂浓度 1995 05
24 关于多孔硅发光的研究进展 1995 06
25 利用氟化气体和氧气的混和物进行SiC薄膜的反应离子刻… 1995 05
26 蓬勃发展的GaAs MMIC──1994 IEEE … 1995 01
27 使用超薄硅界面控制层钝化暴露在空气中的InGaAs表… 1995 02
28 英国要推进GaAs技术 1996 03
29 2英寸GaAs快速热退火技术研究 1996 01
30 750℃下用低压化学汽相沉积在Si上外延生长单晶Si… 1996 03
31 薄片半绝缘GaAs测试方法的研究 1996 03
32 电子电镀技术的回顾与展望 1996 03
33 方块电阻测试中的有限元理论 1996 06
34 负电子亲和势Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体光电阴极及其发展 1996 06
35 化合物半导体异质结微波和高速器件的研究和发展 1996 04
36 局部氧化的SiC器件的等平面隔离技术 1996 03
37 纳米级掺杂超晶格的生长及其性质研究 1996 04
38 欧洲计划联合开发8in SOI晶片 1996 03
39 汽压控制直拉法生长Ⅲ-Ⅴ族材料的生长与特性──与标准… 1996 03
40 强磁场增强反应离子腐蚀实验研究 1996 01
41 全自动反应离子腐蚀3英寸GaAs片实验研究 1996 06
42 用AES/XPS对异质结材料的研究 1997 06
43 微机电系统实验建模研究 1997 05
44 微机械惯性仪表的原理结构与制造技术 1997 02
45 微机械及其特性 1997 02
46 微型振动陀螺仪 1997 04
47 微型涡轮和微型齿轮泵的研制 1997 06
48 下世纪初微电子机械系统的发展 1997 02
49 GaN材料生长研究 1997 05
50 大信号有源器件S参数测试方法研究 1997 03
51 采用三维光刻技术制造集成柔性微执行器 1997 02
52 表面微机械加工中分离微机械结构的新方法 1997 02
53 分子束外延研究进展 1997 03
54 非掺SI-GaAs单晶热处理的研究 1997 05
55 镍表面微机械加工 1997 02
56 提高GaAs晶体质量的一种重要手段 1997 04
57 锁相技术在超声波发生器中的应用 1997 05
58 通用于GaAs MESFET和HEMT的精确I_(d… 1997 04
59 真空紫外光直接光CVD SiO_2膜的偏压温度处理 1998 03
60 真空紫外光直接光CVD SiO_2膜的偏压温度处理 1998 03
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