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1
2英寸高均匀性GaAs多层外延材料
1994
06
2
fmax为66GHz的HBT
1994
05
3
FT─IR技术在半导体材料中的应用
1994
03
4
GaAs MESFET非线性CAD模型综述
1994
03
5
LP-MOCVD生长InGaAs/GaAs量子阱
1994
06
6
PECVDSiN及其在GaAsMESFET中的应用第…
1994
02
7
半导体微结构材料的发展
1994
02
8
高击穿电压InAIAs/n~+-InGaAs HFE…
1994
04
9
航空电子学用的多芯片组件的现状
1994
01
10
磷化铟晶体生长技术的现状及其发展趋势
1994
02
11
砷化镓能为我们做些什么?──记1993年GaAs I…
1994
03
12
在β-SiC薄膜上热生长SiO_2薄膜的高频电容-电…
1995
05
13
迅速发展的SiC半导体技术
1995
05
14
GaAsMESFET和DHEMT的中子辐射效应研究
1995
04
15
AlN基板与金属化层界面的分析电镜研究
1995
03
16
AlInAs/GaINAsHBTIC技术
1995
02
17
SiC接触的电学和化学特性
1995
05
18
MOCVD生长带有MQB的量子阱激光器材料
1995
04
19
MBE法生长的调制掺杂GaAs/Al_xGa_(1-…
1995
01
20
电力器件用的6H-SiC、3C-SiC和Si的比较
1995
05
21
低介电常数陶瓷复合基板材料
1995
06
22
高热导AlN──新型陶瓷基片及封装材料
1995
01
23
光致发光测定6H-SiC中的氮掺杂浓度
1995
05
24
关于多孔硅发光的研究进展
1995
06
25
利用氟化气体和氧气的混和物进行SiC薄膜的反应离子刻…
1995
05
26
蓬勃发展的GaAs MMIC──1994 IEEE …
1995
01
27
使用超薄硅界面控制层钝化暴露在空气中的InGaAs表…
1995
02
28
英国要推进GaAs技术
1996
03
29
2英寸GaAs快速热退火技术研究
1996
01
30
750℃下用低压化学汽相沉积在Si上外延生长单晶Si…
1996
03
31
薄片半绝缘GaAs测试方法的研究
1996
03
32
电子电镀技术的回顾与展望
1996
03
33
方块电阻测试中的有限元理论
1996
06
34
负电子亲和势Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体光电阴极及其发展
1996
06
35
化合物半导体异质结微波和高速器件的研究和发展
1996
04
36
局部氧化的SiC器件的等平面隔离技术
1996
03
37
纳米级掺杂超晶格的生长及其性质研究
1996
04
38
欧洲计划联合开发8in SOI晶片
1996
03
39
汽压控制直拉法生长Ⅲ-Ⅴ族材料的生长与特性──与标准…
1996
03
40
强磁场增强反应离子腐蚀实验研究
1996
01
41
全自动反应离子腐蚀3英寸GaAs片实验研究
1996
06
42
用AES/XPS对异质结材料的研究
1997
06
43
微机电系统实验建模研究
1997
05
44
微机械惯性仪表的原理结构与制造技术
1997
02
45
微机械及其特性
1997
02
46
微型振动陀螺仪
1997
04
47
微型涡轮和微型齿轮泵的研制
1997
06
48
下世纪初微电子机械系统的发展
1997
02
49
GaN材料生长研究
1997
05
50
大信号有源器件S参数测试方法研究
1997
03
51
采用三维光刻技术制造集成柔性微执行器
1997
02
52
表面微机械加工中分离微机械结构的新方法
1997
02
53
分子束外延研究进展
1997
03
54
非掺SI-GaAs单晶热处理的研究
1997
05
55
镍表面微机械加工
1997
02
56
提高GaAs晶体质量的一种重要手段
1997
04
57
锁相技术在超声波发生器中的应用
1997
05
58
通用于GaAs MESFET和HEMT的精确I_(d…
1997
04
59
真空紫外光直接光CVD SiO_2膜的偏压温度处理
1998
03
60
真空紫外光直接光CVD SiO_2膜的偏压温度处理
1998
03
-
1
2
3
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